주요 기능

• SEM에서 heating + biasing
• Nano-Chip 기반 실험
• SEM/TEM 간 연계 관찰

주요 기능

• 액상 전기화학 실험
• 외부 reference / counter electrode
• SEM 및 벤치톱 실험 구성

주요 기능

• 광조사 기능 추가
• Climate∞ / Stream∞ 플랫폼 연계
• 가열·바이어싱과 복합 자극 구성

주요 기능

• 여러 실험 신호의 시간 동기화
• Python 기반 데이터 분석
• 한 프로젝트에서 분석 결과 관리·내보내기

주요 기능

• 8개 프로브의 위치 피드백 및 Park & Restore
• 저가속전압 실험을 위한 Automated pre-alignment
• MM4 기반의 낮은 높이(10mm)와 SEM load-lock 호환 구성
• Advanced Probing Tools 연계

주요 기능

• 최대 8개 MM4 매니퓰레이터 구성
• 저전류(<50fA/V) 전기 측정
• Advanced Probing Tools와 연계

주요 기능

• 4-probe 구성
• SEM 내부의 정밀 프로빙
• 시료의 전기적 특성 분석

주요 기능

• Closed-loop positional feedback
• Parking / working position 저장 및 
• Drag-and-drop 방식의 3-axis 위치 제어
• (Optional) encoded axial rotation

주요 기능

• 3축 정밀 위치 조절
• SEM/FIB 내 시료 조작
• 플러그인 도구와 조합

주요 기능

• PS8용 온도 제어 옵션
• Heating / cooling 실험
• 온도에 따른 전기적 응답 측정

주요 기능

• Micro Gripper / Mini Tweezer
• Rotation Tip / Low Current Measurement Kit
• Micro Soldering / Injection / Force Measurement

주요 기능

• Precession Electron Diffraction (PED) 취득
• Precession 각도·주파수 조절 및 빔 보상
• TEM과 실험 조건별 정렬 설정 저장
• ASTAR·Strain Mapping·3D Diffraction Tomography 연계

주요 기능

• 결정방위 지도
• 상 식별 및 분포 분석
• 미세 결정립의 구조 분석

주요 기능

• Nanobeam precession diffraction 기반
• 공간 분해 변형률 매핑
• STEM 영상과 회절 데이터 연계

주요 기능

• 4D-SPED 데이터 기반
• 중심빔 분포 변화 분석
• 전기장·자기장 공간 분포 관찰

주요 기능

• Electron Pair Distribution Function
• 국소 구조 및 원자 배열 분석
• 4D-SPED / 4D-STEM 기반 공간 매핑

주요 기능

• 3차원 회절 데이터 취득
• 역공간 재구성 및 단위격자 분석
• 미세 결정의 구조 해석

주요 기능

• Event-based / frame-based 취득 모드
• 전자별 시간 정보 기록
• 시간 분해 실험과 분석 방법 개발

주요 기능

• Hybrid pixel architecture
• 연속 readout을 위한 dual counters
• 소형 retractable 구성

주요 기능

• Single-electron sensitivity
• 고속 데이터 취득
• 전자 회절 및 주사 회절 분석

주요 기능

• Polepiece 부근 직접 Cleaning
• Oxygen radical을 이용한 Hydrocarbon 제거
• TEM in-situ cleaning

주요 기능

• Downstream plasma cleaning
• 챔버 내 Hydrocarbon 오염 제거
• 장비 유지보수용 Cleaning

주요 기능

• Plasma + UV afterglow cleaning
• power·cleaning 시간·사이클·레시피 설정
• 최대 50 W 연속 출력 / 75 W peak

주요 기능

• UHV 챔버용 설계
• Hydrocarbon 오염 제거
• 진공 시스템 Cleaning

주요 기능

• 소형 PRS 및 flush-mounting flange
• 터치패드 기반 Cleaning 레시피 설정
• Plasma + UV afterglow를 이용한 오염 제거
• RF 출력 5–16 W / 13.56 MHz

주요 기능

• Benchtop 세정 시스템
• 시료의 탄화수소 오염 관리
• Downstream plasma 방식

적게 측정하고 빠르게 복원

별도의 Pre-training 없이 취득 데이터에서 dictionary를 구성하고 누락된 정보를 수학적으로 복원합니다. Local PC 또는 server에서 동작하며, scan generator 또는 OEM integration을 통해 기존 scanning system에 적용할 수 있습니다.

Key Benefits

• 취득 시간과 electron dose 감소
• 전자빔 손상 및 대면적 스캔의 drift 영향 감소
• 데이터량과 저장 공간 요구량 감소
• Pre-trained AI 없이 Local / Standalone PC에서 동작

제조사 자료는 1–10% sampling에 따른 10×–100× 수준의 속도 향상 / 선량 감소를 제시합니다. 실제 적용 범위와 성능은 시료, 취득 조건 및 장비 구성에 따라 달라집니다.

Secure On-Premise Operation

Local PC 또는 server 기반 운영과 secure on-premise / air-gapped 배포 옵션을 지원합니다. 장비 연동과 설치 구성은 상담을 통해 확인할 수 있습니다.

자료: SenseAI Semiconductor and Industrial Materials Deck, March 2026.

Denoising & Deblurring

이미 취득한 영상의 노이즈와 흐림을 줄여 미세 구조를 관찰하고 분석할 수 있도록 돕습니다. 단일 프레임뿐 아니라 in-situ 동영상의 denoising에도 활용할 수 있습니다.

Feature Enhancement

Dictionary를 구성하는 성분을 분리하고 가중치를 조절하여, 취득 후 영상에서 분석에 필요한 구조적 특징을 강조합니다. 제조사 자료의 최적화 전후 이미지를 아래에서 비교할 수 있습니다.